Memory Test
》K8000-M/L
》1GHz
》Slot数量：26/52
》全水冷散热
》最大数字通道：12800ch






K8000-M 测试系统针对存储芯片的高端测试机型，当前主要应用于闪存芯片测试，包含 CP 和 FT 测试。
K8000-M 采用灵活开放式 X-Cross 系统架构，支持 26 个资源槽位、6400 个数字通道，具备 1600 DUT（x4 PIN）的并测能力。K8000-M 还支持 Para-Site 和 PPMU 等功能，能够在保证优秀测试速率的同时最大程度提升测试效率。